Silicon Wafer
Test CZ-Si wafer 3 inch, thickness = 381 ± 25 µm, (100), 1-side polished, p-type (Boron), 1 - 20 Ohm cm
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Spezifikationen:
| Artikel-Nr.: | WSM30381250B1324SNN1 |
| Wafer thickness tolerance: | +/- 25 µm |
| Wafer thickness: | 381 µm |
| Resistivity: | 1 - 20 Ohm cm |
| Diameter: | 3 inch |
| Orientation: | (100) |
| Dopand: | Boron |
| Surface: | 1-side polished (ssp) |
| Quality: | Test |
| Material: | CZ-Si |
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