Silicon Wafer

Test CZ-Si wafer 2 inch, thickness = 279 ± 25 µm, (100), 1-side polished, p-type (Boron), 1 - 20 Ohm cm

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Spezifikationen:

Artikel-Nr.: WSM20279250B1324SNN1
Wafer thickness tolerance: +/- 25 µm
Resistivity: 1 - 20 Ohm cm
Wafer thickness: 279 µm
Diameter: 2 inch
Orientation: (100)
Dopand: Boron
Surface: 1-side polished (ssp)
Quality: Test
Material: CZ-Si
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Produktinformationen "Silicon Wafer"

Test CZ-Si wafer 2 inch, thickness = 279 ± 25 µm, (100), 1-side polished, p-type (Boron), 1 - 20 Ohm cm

Min. order quantity and sales unit = 25 wafers.

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